发明名称 一种聚合物分散液晶薄盒微位移传感器及其测量方法
摘要 本发明公开了一种PDLC薄盒微位移传感器,包括PDLC薄盒、激光器、夹持装置和光探测器,薄盒具有两个相互平行的第一接触面和第二接触面;激光器产生入射到薄盒的激光;夹持装置以受力均衡的方式支承和固定薄盒的第一接触面;光探测器接收和检测透射过薄盒的激光;被测物体接触薄盒的第二接触面,当被测物体发生位移时,其能够使该薄盒的第二接触面随之位移,导致薄盒的厚度发生变化,从而使光探测器检测到的透射过薄盒的激光的光通量发生变化。本发明制作方便、不需要加电,避免电场随薄盒厚度变化而变化产生的干扰,节省了ITO层的费用,能有效降低微位移传感系统的成本。
申请公布号 CN103292712A 申请公布日期 2013.09.11
申请号 CN201310210118.2 申请日期 2013.05.30
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 耿红艳;周州;宋国峰;徐云;范志新
分类号 G01B11/02(2006.01)I;G01B11/06(2006.01)I 主分类号 G01B11/02(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 宋焰琴
主权项 一种PDLC薄盒微位移传感器,用于检测被测物体的位移量,包括PDLC薄盒、激光器、夹持装置和光探测器,其中,所述PDLC薄盒具有两个相互平行的第一接触面和第二接触面;所述激光器用于产生入射到PDLC薄盒的激光;所述夹持装置以受力均衡的方式支承和固定PDLC薄盒的第一接触面;所述光探测器用于接收和检测透射过PDLC薄盒的激光;并且,所述被测物体接触所述PDLC薄盒的第二接触面,并且,当该被测物体发生位移时,其能够使该PDLC薄盒的第二接触面随之位移,导致所述PDLC薄盒的厚度发生变化,从而使所述光控测器检测到的透射过所述PDLC薄盒的激光的光通量发生变化。
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