发明名称 Halbleiterbauelement mit reduziertem Oberflächenfeldeffekt und Verfahren zu dessen Fertigung
摘要 Verfahren, um ein Halbleiterbauelement zu bilden, umfassend: das Aufbringen einer dielektrischen Schicht über einem Substrat; das Aufbringen einer ersten Polyschicht über der dielektrischen Schicht; das Bilden einer Vielzahl von Isolierungsregionen in einer Sourceregion oder einer Drainregion des Substrats; das Ätzen der ersten Polyschicht, um eine gemusterte erste Polyschicht über einer Kanalregion des Substrats zu bilden, wobei sich die Kanalregion zwischen der Sourceregion und der Drainregion befindet; das Bilden einer zweiten Polyschicht über der gemusterten ersten Polyschicht, wobei die zweite Polyschicht Fingerelemente aufweist, die sich über die Vielzahl von Isolierungsregionen erstrecken.
申请公布号 DE102010053297(B4) 申请公布日期 2013.02.21
申请号 DE20101053297 申请日期 2010.12.02
申请人 INTEL CORPORATION 发明人 SMITH, MICHAEL ANDREW
分类号 H01L21/336;H01L21/762;H01L29/423;H01L29/78 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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