发明名称 一种电容结构的形成方法
摘要 一种电容结构的形成方法,包括:提供基底,所述基底包括套刻标记区和器件区;在所述套刻标记区和器件区上形成三层结构,所述三层结构包括依次位于所述基底上的第一金属层、介质材料层、第二金属层;刻蚀所述三层结构,在所述器件区上形成电容结构,包括:在所述三层结构表面形成光刻胶层;以所述光刻胶层为掩膜,刻蚀三层结构,直至暴露出所述第一金属层,形成位于所述器件区的上电极及介质层;接着,图案化刻蚀所述第一金属层。本发明提高套刻对准的精确度,避免探测信号进行对准测量时发生信号不稳定及错误信号的现象,进一步避免引起探测信号仪器的报警,提高电容结构的可靠性。
申请公布号 CN102290330A 申请公布日期 2011.12.21
申请号 CN201110250694.0 申请日期 2011.08.29
申请人 上海宏力半导体制造有限公司 发明人 王健鹏;陈蕾
分类号 H01L21/02(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L21/02(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 骆苏华
主权项 一种电容结构的形成方法,其特征在于,包括:提供基底,所述基底包括套刻标记区和器件区,所述套刻标记区形成有第一标记,所述器件区形成有底层导电结构;在所述套刻标记区和器件区上形成三层结构,所述三层结构包括依次位于所述基底上的第一金属层、介质材料层、第二金属层;刻蚀所述三层结构,在所述器件区上形成电容结构,包括:在所述三层结构表面形成光刻胶层,位于所述器件区的光刻胶层与后续待形成的上电极及介质层对应;以所述光刻胶层为掩膜,刻蚀三层结构,直至暴露出所述第一金属层,形成位于所述器件区的上电极及介质层;接着,图案化刻蚀所述第一金属层,形成下电极,所述上电极、介质层及下电极构成电容结构,所述电容结构与所述底层导电结构电连接。
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