发明名称 |
一种电容结构的形成方法 |
摘要 |
一种电容结构的形成方法,包括:提供基底,所述基底包括套刻标记区和器件区;在所述套刻标记区和器件区上形成三层结构,所述三层结构包括依次位于所述基底上的第一金属层、介质材料层、第二金属层;刻蚀所述三层结构,在所述器件区上形成电容结构,包括:在所述三层结构表面形成光刻胶层;以所述光刻胶层为掩膜,刻蚀三层结构,直至暴露出所述第一金属层,形成位于所述器件区的上电极及介质层;接着,图案化刻蚀所述第一金属层。本发明提高套刻对准的精确度,避免探测信号进行对准测量时发生信号不稳定及错误信号的现象,进一步避免引起探测信号仪器的报警,提高电容结构的可靠性。 |
申请公布号 |
CN102290330A |
申请公布日期 |
2011.12.21 |
申请号 |
CN201110250694.0 |
申请日期 |
2011.08.29 |
申请人 |
上海宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
王健鹏;陈蕾 |
分类号 |
H01L21/02(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
骆苏华 |
主权项 |
一种电容结构的形成方法,其特征在于,包括:提供基底,所述基底包括套刻标记区和器件区,所述套刻标记区形成有第一标记,所述器件区形成有底层导电结构;在所述套刻标记区和器件区上形成三层结构,所述三层结构包括依次位于所述基底上的第一金属层、介质材料层、第二金属层;刻蚀所述三层结构,在所述器件区上形成电容结构,包括:在所述三层结构表面形成光刻胶层,位于所述器件区的光刻胶层与后续待形成的上电极及介质层对应;以所述光刻胶层为掩膜,刻蚀三层结构,直至暴露出所述第一金属层,形成位于所述器件区的上电极及介质层;接着,图案化刻蚀所述第一金属层,形成下电极,所述上电极、介质层及下电极构成电容结构,所述电容结构与所述底层导电结构电连接。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区浦东张江高科技园区祖冲之路1399号 |