发明名称 对测量目标进行测量的方法
摘要 本发明公开了一种对测量目标进行测量的方法。为了对PCB上的测量目标进行测量,利用将光栅图案光照射到PCB上而拍摄的第一图像来获取PCB的三维高度信息。然后,利用高度信息将高度比基准高度大而在PCB上突出的第一区域确定为测量目标。然后,利用将光照射到PCB上而拍摄的第二图像来获取PCB的颜色信息。然后,将PCB的颜色信息之中的被确定为测量目标的第一区域的第一颜色信息设定为基准颜色信息。然后,将基准颜色信息与除第一区域之外的区域的颜色信息进行比较,以判定测量目标是否形成在除第一区域之外的区域中。因此,可以精确地对测量目标进行测量。
申请公布号 CN101887033A 申请公布日期 2010.11.17
申请号 CN201010181183.3 申请日期 2010.05.13
申请人 株式会社高永科技 发明人 郑仲基;金珉永;柳希昱
分类号 G01N21/956(2006.01)I 主分类号 G01N21/956(2006.01)I
代理机构 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人 韩明星;薛义丹
主权项 一种对印刷电路板上的测量目标进行测量的方法,所述方法包括以下步骤:利用第一图像获取印刷电路板的三维高度信息,所述第一图像是利用第一照明单元将光栅图案光照射到印刷电路板上而拍摄的;利用所获取的高度信息将高度比基准高度大或等于基准高度而在印刷电路板上突出的第一区域确定为测量目标;利用第二图像获取印刷电路板的颜色信息,所述第二图像是通过将第二照明单元产生的光照射到印刷电路板上而拍摄的;将所获取的印刷电路板的颜色信息之中的被确定为测量目标的第一区域的第一颜色信息设定为基准颜色信息;将基准颜色信息与除第一区域之外的区域的颜色信息进行比较以判定测量目标是否形成在除第一区域之外的区域中。
地址 韩国首尔