发明名称 下栅极式薄膜晶体管及其制作方法
摘要 本发明公开了一种下栅极式薄膜晶体管,包含栅极、栅极绝缘层以及微结晶硅层。栅极配置于基板上,而栅极绝缘层由氮化硅材料制成,并配置于栅极与基板上。微结晶硅层则是配置于栅极绝缘层上,且对应于栅极。其中,栅极绝缘层与微结晶硅层接触的界面具有数个氧原子,且这些氧原子的浓度范围介于10<sup>20</sup>个原子/立方公分与10<sup>25</sup>个原子/立方公分之间。此外,一种制作下栅极式薄膜晶体管的方法也在此揭露。
申请公布号 CN101393936A 申请公布日期 2009.03.25
申请号 CN200810175280.4 申请日期 2008.11.10
申请人 友达光电股份有限公司 发明人 彭雅慧;曾以亚;黄坤富;陈志轩;林汉涂
分类号 H01L29/786(2006.01)I;H01L29/51(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I 主分类号 H01L29/786(2006.01)I
代理机构 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人 梁 挥;祁建国
主权项 1. 一种下栅极式薄膜晶体管,其特征在于,包含:一栅极,配置于一基板上;一栅极绝缘层,由氮化硅材料制成,并配置于该栅极与该基板上;以及一微结晶硅层,配置于该栅极绝缘层上,且对应于该栅极;其中,该栅极绝缘层与该微结晶硅层接触的界面具有多数个氧原子,且该些氧原子的浓度范围介于1020个原子/立方公分与1025个原子/立方公分之间。
地址 台湾省新竹