发明名称 半导体集成电路器件
摘要 半导体集成电路器件包括P型衬底。N沟道MOS晶体管、P沟道MOS晶体管、以及MOS型变抗器元件提供在P型衬底的上表面中。MOS型变抗器元件的栅极绝缘膜薄于N沟道MOS晶体管和P沟道MOS晶体管的栅极绝缘膜。同样,施加在MOS型变抗器元件的阱端子和栅极端子之间的最大栅极电压低于施加到N沟道MOS晶体管和P沟道MOS晶体管的最大栅极电压。
申请公布号 CN101159266A 申请公布日期 2008.04.09
申请号 CN200710167162.4 申请日期 2004.04.06
申请人 恩益禧电子股份有限公司 发明人 中柴康隆
分类号 H01L27/06(2006.01) 主分类号 H01L27/06(2006.01)
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人 钟强;谷惠敏
主权项 1.一种半导体集成电路器件,包括:第一导电类型半导体衬底;MOS晶体管,设置在所述衬底中,包括第一栅极绝缘膜;以及MOS型电容器元件,设置在所述衬底中,所述MOS型电容器元件包括第二栅极绝缘膜、栅极电极和阱,其中所述第二栅极绝缘膜、所述栅极电极和所述阱形成电容,所述第二栅极绝缘膜的厚度薄于所述MOS晶体管的所述第一栅极绝缘膜中最薄的栅极绝缘膜。
地址 日本神奈川