| 发明名称 | 对半导体集成电路进行门级别仿真的方法和装置 | ||
| 摘要 | 一种对半导体集成电路(IC)进行门级别仿真的方法，包括：提供包括关于可变电源和可变地源的信息的网表，提供包括可变电源和可变地源的电路模型，以及通过使用电路模型对网表进行门级别仿真。 | ||
| 申请公布号 | CN101122932A | 申请公布日期 | 2008.02.13 |
| 申请号 | CN200710141109.7 | 申请日期 | 2007.08.08 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 金卓永;张善泳;宋亨洙 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01) | 主分类号 | G06F17/50(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 邵亚丽;钱大勇 |
| 主权项 | 1.一种对半导体集成电路(IC)进行门级别仿真的方法，所述方法包括：提供包括关于可变电源和可变地源的信息的网表；提供包括所述可变电源和所述可变地源的电路模型；以及通过使用该电路模型对所述网表进行门级别仿真。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||