发明名称 |
待测器件和测试头之间的通用测试接口 |
摘要 |
为了在容纳待测器件(DUT)的DUT板和连接到测试头的电缆之间形成模块化接口,提供一个具有连接器阵列的板垫块。每个电缆连接到一个相应的连接器,并且DUT板包含一个对应的连接点阵列,连接点的数量等于或小于板垫块上的阵列中的连接器的数量。以此方式,可以使用一个公共板垫块来把电缆连接到容纳不同类型DUT的DUT板,因为板垫块上的连接点的位置是已知的并且保持恒定。该接口允许测试头和DUT上器件之间的用于超过50MHz频率的高速和高保真度连接。 |
申请公布号 |
CN1314976C |
申请公布日期 |
2007.05.09 |
申请号 |
CN02800678.X |
申请日期 |
2002.03.13 |
申请人 |
爱德旺太斯特株式会社 |
发明人 |
詹姆士·沃伦·弗雷姆 |
分类号 |
G01R31/319(2006.01);G01R1/073(2006.01);G01R1/067(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/319(2006.01) |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 |
代理人 |
李辉 |
主权项 |
1.一种待测器件和电缆之间的接口,包括:第一板,具有第一连接器阵列,每个第一连接器连接到一个相应电缆;和第二板,保持该待测器件并且具有多个第二连接器,每个第二连接器连接到该待测器件和一个相应的第一连接器,其中第二连接器的数量小于第一连接器的数量。 |
地址 |
日本东京 |