发明名称 待测器件和测试头之间的通用测试接口
摘要 为了在容纳待测器件(DUT)的DUT板和连接到测试头的电缆之间形成模块化接口,提供一个具有连接器阵列的板垫块。每个电缆连接到一个相应的连接器,并且DUT板包含一个对应的连接点阵列,连接点的数量等于或小于板垫块上的阵列中的连接器的数量。以此方式,可以使用一个公共板垫块来把电缆连接到容纳不同类型DUT的DUT板,因为板垫块上的连接点的位置是已知的并且保持恒定。该接口允许测试头和DUT上器件之间的用于超过50MHz频率的高速和高保真度连接。
申请公布号 CN1314976C 申请公布日期 2007.05.09
申请号 CN02800678.X 申请日期 2002.03.13
申请人 爱德旺太斯特株式会社 发明人 詹姆士·沃伦·弗雷姆
分类号 G01R31/319(2006.01);G01R1/073(2006.01);G01R1/067(2006.01) 主分类号 G01R31/319(2006.01)
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 李辉
主权项 1.一种待测器件和电缆之间的接口,包括:第一板,具有第一连接器阵列,每个第一连接器连接到一个相应电缆;和第二板,保持该待测器件并且具有多个第二连接器,每个第二连接器连接到该待测器件和一个相应的第一连接器,其中第二连接器的数量小于第一连接器的数量。
地址 日本东京
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