发明名称 测试装置以及测试方法
摘要 本发明提供一种对电路内的信号传播路径的延迟故障适当地进行检出所用的测试装置。此测试装置具备:门限(threshold)值电压设定部,其对连接至上述信号传播路径上之逻辑元件的门限值电压进行设定;测试信号供给部,在第1门限值电压和第2门限值电压都已分别由门限值电压设定部设定完成后的状态下,此测试信号供给部使上述信号传播路径上的逻辑元件动作所用的测试信号供给至被测试元件;电流测定部,其对第1门限值电压已设定后的状态下使逻辑元件动作时之被测试元件的消耗电流中的第1动作电流、以及第2门限值电压已设定后的状态下使逻辑元件动作时之被测试元件的消耗电流中的第2动作电流分别予以测定;以及良否判定部,其依据第1动作电流和第2动作电流来判定信号传播路径之良否。
申请公布号 TW200636268 申请公布日期 2006.10.16
申请号 TW095112808 申请日期 2006.04.11
申请人 爱德万测试股份有限公司 发明人 古川靖夫
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 日本