| 发明名称 | 在测试期间启动存储器冗余 | ||
| 摘要 | 用于在存储器阵列(14)的测试期间启动冗余存储器元件(20)的方法和装置。 | ||
| 申请公布号 | CN1708808A | 申请公布日期 | 2005.12.14 |
| 申请号 | CN02830034.3 | 申请日期 | 2002.12.16 |
| 申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | M·R·乌埃利特;J·罗兰 |
| 分类号 | G11C7/00;G11C29/00 | 主分类号 | G11C7/00 |
| 代理机构 | 北京市中咨律师事务所 | 代理人 | 于静;杨晓光 |
| 主权项 | 1.一种集成电路(10)，包括：具有多个存储器元件(18、20)的存储器阵列(14)，所述存储器元件包括至少一个用于与所述多个存储器元件中的有故障的存储器元件进行交换的冗余存储器元件(20)；内置存储器自测试单元(12)，包括：测试单元(21)，用于确定存储器元件是否有故障，并且响应有故障产生故障信号；冗余启动激励器(23)，用于通过载入启动信号对冗余的启动进行定时；以及故障地址寄存器(16)，用于当所述故障信号被激活时，基于所述载入启动信号控制相应的冗余存储器元件的启动。 | ||
| 地址 | 美国纽约 | ||