| 发明名称 | 半导体集成电路及其复原方法 | ||
| 摘要 | 在成为电源切断对象的电路块(110)中，在两系统的电源线(141、143)上，在电源端子(140、142)的附近分别配置电压检测电路(130、134)，在距离所述电源端子(140、142)远的规定位置分别配置电压检测电路(132、136)。这些电压检测电路只由MOS晶体管构成。当从电源供给电路150再投入电源时，在所述全部各电压检测电路中，检测到电源电压达到设定电位后，复原信号发生电路(160)解除向电路块(110)的复原信号的输入。所以，当电源电压成为设定电压后，就解除了复原状态，因此可以正常地进行半导体电路的初始化，由此，提供可以适当地发生通电复原信号的半导体集成电路。 | ||
| 申请公布号 | CN1565079A | 申请公布日期 | 2005.01.12 |
| 申请号 | CN02819478.0 | 申请日期 | 2002.11.20 |
| 申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 冈本稔;丸井信一;冈林和宏 |
| 分类号 | H03K17/22;G06F1/24 | 主分类号 | H03K17/22 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 汪惠民 |
| 主权项 | 1.一种半导体集成电路，其特征在于，具备：持有至少一个系统的电源线，从该电源线向内部具有的多个半导体元件供给电源的电路块；在所述电源线的规定位置上连接所述电源线，并且当该电源线的所述规定位置上的电位为设定电位时，输出规定电位的电压检测信号的多个电压检测机构。 | ||
| 地址 | 日本大阪府 | ||