发明名称 | 数位取像光轴偏斜验证的方法 | ||
摘要 | 本发明系关于一种数位取像光轴偏斜验证的方法,主要强调于数位取像系统中,能验证光轴偏移的程度,以及利用镜头“相对照度”的特性,做一最佳化的搜寻以求得视角,倾角,旋转角,其手段系藉一均匀光源取得影像,所述的方法包括以下步骤:(A)将该取得影像机构对准该光箱,(B)取得一个影像,所述的影像系由复数个像素所构成的集合;以及(C)找出视角(AngleofView)θ、倾角a及旋转角β的步骤。 | ||
申请公布号 | TW200413831 | 申请公布日期 | 2004.08.01 |
申请号 | TW092102166 | 申请日期 | 2003.01.30 |
申请人 | 智基科技开发股份有限公司 | 发明人 | 周文隆;涂志文 |
分类号 | G03B5/00 | 主分类号 | G03B5/00 |
代理机构 | 代理人 | 吴宏山 | |
主权项 | |||
地址 | 台北县中和市建一路一五○号九楼 |