发明名称 ASSEMBLY AND METHOD FOR WAVELENGTH CALIBRATION IN AN ECHELLE SPECTROMETER
摘要 <p>Eine Spektrometer-Anordnung (10) enthält eine Strahlungsqeulle (11) mit kontinuierlichem Spektrum, einen Vormonochromator (2) zur Erzeugung eines Spektrums mit relativ geringer Lineardispersion aus welchem ein Spektrenausschnitt selektierbar ist, dessen spektrale Bandbreite kleiner oder gleich der Bandbreite des freien Spektralbereiches derjenigen Ordnung im Echelle-Spektrum ist, in der die Mittenwellenlänge des selektierten Spektrenausschnitts mit maximaler Blazeeffektivität messbar ist, ein Echelle-Spektrometer (4) mit Mitteln zur Wellenlängenkalibrierung, einen Eintrittsspalt (21) an dem Vormonochromator (2), eine Zwischenspalt-Anordnung (3) mit einem Zwischenspalt und einen ortsauflösenden Strahlungsempfänger (5) in der Austrittsebene des Spektrometers zur Detektion von Wellenlängen-Spektren. Die Anordnung ist dadurch gekennzeichnet, daβ die Breite des Zwischenspalts (3) gröβer ist, als das durch den Vormonochromator am Ort des Zwischenspaltes entstehende monochromatische Bild des Eintrittspaltes und Mittel zur Kalibrierung des Vormonochromators vorgesehen sind, durch welche die auf den Detektor abgebildete Strahlung der Strahlungsquelle mit kontinuierlichen Spektrum auf eine Referenzposition kalibrierbar ist.</p>
申请公布号 WO2003067204(P1) 申请公布日期 2003.08.14
申请号 EP2003000832 申请日期 2003.01.28
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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