| 主权项 |
1.一种用以侦测遮蔽的方法,包括:利用一移动补偿器移动补偿一先前位移向量场,即一先前DVF,以提供一预测DVF;利用一遮蔽测试参数,根据先前DVF与预测DVF之间的差别,计算一遮蔽测试参数;利用一最佳临限产生器,计算根据先前DVF之一最佳临限以及一预定临限;以及利用一遮蔽比较单元,将该遮蔽测试参数与一最佳临限比较,以决定遮蔽的存在。2.根据申请专利范围第1项之方法,其中具有下列2A至2H中的至少一项:2A)遮蔽测试参数为先前DVF与预测DVF之间的差别之绝对値;2B)计算最佳临限的工作包含计算先前DVF之一局部变化以及其一切变化;2C)比较遮蔽测试参数与最佳临限;2D)进一步包括根据遮蔽的出现将一现在位移向量场DVF编码;2E)进一步包括根据遮蔽的出现将一编码位移向量场DVF解码;2F)将此种方法的步骤实施在一数位信号处理器(DSP)之一实体媒介中;2G)将此种方法的步骤实施在一应用率积体电路ASIC中;以及2H)将此种方法的步骤实施在一闸列中。3.根据申请专利范围第1项之方法,其中系将此种方法的步骤具体实施在一部电脑的实体媒介中。4.根据申请专利范围第3项之方法,其中实体介质为一电脑塑料磁盘。5.根据申请专利范围第3项之方法,其中实体介质为电脑之一记忆单元。6.一种用于侦测遮蔽的装置,包括:可操作地被耦合至一先前位移向量场(一先前DVF)之一移动补偿单元,用以提供一预测DVF;一遮蔽测试参数,可操作地被耦合来接收该先前DVF以及可操作地被耦合至移动补偿单元,用以根据该先前DVF与预测DVF之间的差别,计算一遮蔽测试参数;一最佳临限产生器,可操作地被耦合来接收该先前DVF及一预定临限,用以计算一最佳临限;以及一遮蔽比较单元,可操作地被耦合至遮蔽测试参数产生器及最佳临限产生器,用以将遮蔽测试参数与一最佳临限比较,以决定遮蔽的存在。7.根据申请专利范围第6项之装置,其中包括下列7A至7G项中的至少一项:7A)其中遮蔽测试参数为先前DVF与预测DVF之间的差别之绝对値;7B)其最佳临限产生器包含一局部变化计算器以及一一切变化计算器;7C)进一步包括被耦合至遮蔽比较单元之一遮蔽DVF编码单元,用以根据遮蔽的存在将一出现位移向量场DVF编码;7D)进一步包括被耦合至遮蔽比较单元之一遮蔽DVF编码单元,用以根据遮蔽的存在将一出现位移向量场DVF解码;7E)将此装置具体实施在一数位信号处理器DSP之一实体媒介中;7F)将此装置具体实施在一应用率积体电路ASIC中;以及7G)将此装置具体实施在一闸列中。8.根据申请专利范围第6项之装置,其中将此装置具体实例在一部电脑的实体媒介中。9.根据申请专利范围第8项之装置,其中实体媒介为一电脑塑料磁盘。10.根据申请专利范围第8项之装置,其中实体媒介为该电脑之一记忆单元。图示简单说明:图一为用以根据本发明侦测遮蔽之装置之一较佳具体实例的方块图。图二为用以根据本发明侦测遮蔽及将作用区编码之装置之一较佳具体实例的方块图。图三为用以根据本发明侦测遮蔽及将作用区解码之装置之一较佳具体实例的方块图。图四为用以根据本发明侦测遮蔽之方法的一较佳具体实例之流程图。图五为用以根据本发明侦测遮蔽及将作用区编码之方法之一较佳具体实例的流程图。图六为用以根据本发明侦测遮蔽及将作用区解码之方法之一较佳具体实例的流程图。 |
