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发明名称
TEST UNIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号
JPS5436149(A)
申请公布日期
1979.03.16
申请号
JP19770102945
申请日期
1977.08.26
申请人
NIPPON ELECTRIC CO
发明人
YAMAGUCHI TAKASHI;SUZUKI KOUICHI
分类号
G01R31/26
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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