| 摘要 |
La présente invention se rapporte à un procédé permettant de déterminer la grandeur de paramètres modifiant la fréquence des oscillations propres de microstructures, ces microstructures présentant au moins une membrane fixée à l'un de leurs bords. Le but de l'invention est de mettre à disposition un procédé permettant la mesure des températures, allongements, pressions, densités, vitesses d'écoulement, taux de revêtement, tensions mécaniques internes et modules d'élasticité, sur des objets à mesurer qui ne sont pas accessibles directement, sans qu'il soit nécessaire, pendant la mesure, d'approcher des raccordements ou des cordons d'alimentation jusqu'à proximité immédiate de l'objet à mesurer. On atteint ce but en déterminant la fréquence de l'oscillation propre et caractéristique des microstructures et en déterminant la grandeur des paramètres à l'aide d'une courbe-étalon. |
