发明名称 低温多晶硅薄膜晶体管的制作方法
摘要 本发明提供一种低温多晶硅薄膜晶体管的制作方法,通过将与栅极接触的氮化硅层氧化成氮氧化硅层,采用氮氧化硅与栅极接触,该氮氧化硅层相比于氮化硅层,不仅可以抵挡离子扩散,还具有高电性稳定度,能够有效抑制栅极绝缘层的载流子注入,提升栅极绝缘层的可靠性和低温多晶硅薄膜晶体管的稳定性,制作方法简单,不需要增加制程光罩数。
申请公布号 CN106057677A 申请公布日期 2016.10.26
申请号 CN201610388354.7 申请日期 2016.06.02
申请人 深圳市华星光电技术有限公司 发明人 吴元均;连水池;周星宇
分类号 H01L21/336(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人 林才桂
主权项 一种低温多晶硅薄膜晶体管的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供一基板(1),在所述基板(1)上沉积一低温多晶硅层,并对所述低温多晶硅层进行离子掺杂和图案化处理,形成有源层(2);步骤2、在所述有源层(2)、及基板(1)上沉积一氧化硅层(31);步骤3、在所述氧化硅层(31)上沉积一氮化硅层(32)并利用含氧气体对所述氮化硅层(32)进行氧化处理,将所述全部氮化硅层(32)或者上层的部分氮化硅层(32)氧化形成一氮氧化硅层(33),从而所述氮氧化硅层(33)与氧化硅层(31)或所述氮氧化硅层(33)、氧化硅层(31)与剩下的氮化硅层(32)共同形成栅极绝缘层(3);步骤4、在所述有源层(2)上方的氮氧化硅层(33)上形成栅极(4);步骤5、在所述栅极(4)、以及氮氧化硅层(33)上沉积一层间绝缘层(5),并在所述层间绝缘层(5)上形成与所述有源层(2)的两端接触的源极(61)与漏极(62)。
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