| 主权项 |
1.一种用以侦检企图作假之装置,该作假系藉着将 一条电 气馈线(13)连接至用于在晶片卡(3)上读写之装置内 ,一 个晶片卡(3)的连接点(12)上,该侦检装置拥有一个 测量 装置(7);其特征在于:该装置拥有一种具有一个共 振器( 1)的共振单元(6),该共振器系耦合至连接点(12),而 且 其电气特性可以被馈线(13)改变,并藉着该测量装 置(7) 侦检。2.如申请专利范围第1项之装置,其特征在于 :该共振器 (1)系电性地连接至用以在晶片卡(3)上读写之装置 的第一 个接触元件(2),该元件可用于该接触点(12)的接触 。3.如申请专利范围第1项之装置,其特征在于:该 共振器 (1)系藉着一个耦合构件(16),以电容方式耦合至该 连接 点(12)。4.如申请专利范围第1.2或3项之装置,其特 征在于: 该共振单元(6)系经设计,使得至少当没有任何电气 馈线( 13)存在时,该共振器(1)内可以产生一个驻波。5.如 申请专利范围第4项之装置,其特征在于:该共振器 (1)系一种电导体。6.如申请专利范围第5项之装置, 其特征在于:该电导体 拥有一个分支(A),电性地连接至该测量装置(7),藉 着该 测量装置可以测量该分支(A)位置之电压。7.如申 请专利范围第1.2或3项之装置,其特征在于: 该共振器(1)系一种共振电路,该电路拥有一个电容 (CC_s C),以及一个与该电容(CC_sC)串连连接的线圈(LC_sC) 。8.如申请专利范围第1.2或3项之装置,其特征在于 : 该共振器(1)系一种共振电路,该电路拥有一个电容 (CC_p C),以及一个与该电容(CC_pC)并联的线圈(LC_pC)。9.一 种藉着依据申请专利范围第1.2或3项之装置以侦 检企图作假之方法,其特征在于:该共振器(1)输入 位置 上的阻抗系经测量,并与一个参考値比较,该値系 相关于 连接点(12)位置没有馈线(13)的状况下,该共振器(1) 所 具有的阻抗。10.一种藉着依据申请专利范围第6项 之装置以侦检企图 作假之方法,其特征在于:位于分支(A)上的电压系 经测 量,并与一个参考値比较,该値系相关于馈线(13)未 连接 至连接点(12)时,分支(A)上所产生的电压。11.一种 藉着依据申请专利范围第6项之装置,以侦检企 图作假的方法其特征在于:该共振器(1)输入位置上 的阻 抗系经测量,并与一个参考値比较,该参考値相关 于该共 振器(1)于连接点(12)位置上不具馈线(13)状况下之 阻抗 ;并且,位于分支(A)位置上的电压系经测量,并与一 个 参考値比较,该参考値则相关于该馈线(13)未连接 至连接 点(12)时,在分支(A)位置上所产生的电压。12.一种 藉着依据申请专利范围第6项之装置以侦检企图 作假之方法,其特征在于:该共振器(1)上输入讯号 的频 率系经变化,直到位于分支(A)位置上的电压达到一 个指 定的目标値为止,此时,该输入讯号的频率经过测 量,并 与一个相关于该频率的预定参考値比较;当该共振 器(1) 以相关于该频率的预定参考値振荡,并且馈线(13) 未连接 至连接点(12)时,位于分支(A)位置上的电压系该指 定目 标値。13.一种藉着依据申请专利范围第5项之装置 以侦检企图 作假之方法,其特征在于:该共振器(1)输入位置上 的阻 抗系经测量,并与一个参考値比较,该値系相关于 连接点 (12)位置没有馈线(13)的状况下,该共振器(1)所具有 的 阻抗。14.一种藉着依据申请专利范围第6项之装置 以侦检企图 作假之方法,其特征在于:该共振器(1)输入位置上 的阻 抗系经测量,并与一个参考値比较,该値系相关于 连接点 (12)位置没有馈线(13)的状况下,该共振器(1)所具有 的 阻抗。第1图显示一种装置之原理,此种装置系用 以侦检 在读写晶片卡之装置上作假之企图;第2图显示此 装置的 另一种结构,以一个导体作为共振器;第3图显示此 装置 的另一种结构,以一并联共振电路作为共振器;第4 图显 示此装置的另一种结构,以一串联共振电路作为共 振器; 第5a图显示此装置另一种结构的平面图;第5b图显 示第5a |
