发明名称 一种检测柔性电子器件导电性能的装置
摘要 本发明公开了一种检测柔性电子器件导电性能的装置,该装置包括基座、位移台、电动机、探针、弯曲机构、显微镜、显示器、源表和控制器,所述的位移台包括第一位移台和第二位移台,分别设于所述基座上的左右两端,所述弯曲机构的左右两端分别与两个位移台相接,且所述的探针设于每个位移台上;所述的电动机包括第一电动机和第二电动机,设于所述基座的左右两侧,且分别与所述第一位移台和第二位移台相接;所述基座的中部后侧设有显微镜安装座,所述的显微镜设于所述的显微镜安装座上;所述的探针与所述源表相接,所述源表、显微镜、电动机和显示器均与所述控制器相接。本发明可实时获取电迁移失效时的判定参数,最终有效实现电迁移失效的预判和控制。
申请公布号 CN106093753A 申请公布日期 2016.11.09
申请号 CN201610595435.4 申请日期 2016.07.27
申请人 嘉兴学院 发明人 鹿业波;左春柽;黄风立;张礼兵;邢博;曹倩倩
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 苏州润桐嘉业知识产权代理有限公司 32261 代理人 韦宇昕
主权项 一种检测柔性电子器件导电性能的装置,其特征在于该装置包括基座、位移台、电动机、探针、弯曲机构、显微镜、显示器、源表和控制器,所述的位移台包括第一位移台和第二位移台,分别设于所述基座上的左右两端,所述弯曲机构的左右两端分别与两个位移台相接,且所述的探针设于每个位移台上;所述的电动机包括第一电动机和第二电动机,设于所述基座的左右两侧,且分别与所述第一位移台和第二位移台相接;所述基座的中部后侧设有显微镜安装座,所述的显微镜设于所述的显微镜安装座上;所述的探针与所述源表相接,所述源表、显微镜、电动机和显示器均与所述控制器相接。
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