发明名称 点灯测试治具以及液晶面板测试方法
摘要 本发明公开了一种点灯测试治具,用于液晶面板加工工艺中的点灯测试作业,所述点灯测试治具包括,第一导电层;以及设置于所述第一导电层上的相互间隔排列的多个导电金属部和多个绝缘部,所述多个导电金属部之间通过所述第一导电层相互电性连接;其中所述导电金属部高于所述绝缘部;本发明还公开了一种使用如前所述测试治具对液晶面板进行点灯测试的方法。本发明能够有效地降低点灯测试的误判率,快速地确认所检测到的缺陷是真正的液晶面板缺陷还是测试治具的缺陷。
申请公布号 CN103454794B 申请公布日期 2016.06.08
申请号 CN201310404897.X 申请日期 2013.09.06
申请人 深圳市华星光电技术有限公司 发明人 熊梅
分类号 G02F1/13(2006.01)I 主分类号 G02F1/13(2006.01)I
代理机构 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人 孙伟峰;武岑飞
主权项 一种液晶面板测试方法,包括使用点灯测试治具对液晶面板进行点灯测试的步骤,其特征在于,所述点灯测试治具包括:第一导电层(401);设置于所述第一导电层(401)上的相互间隔排列的多个导电金属部(402)和多个绝缘部(403),所述多个导电金属部(402)之间通过所述第一导电层(401)相互电性连接;其中所述导电金属部(402)高于所述绝缘部(403);所述测试方法具体包括步骤:(1)提供一液晶面板,所述液晶面板包括液晶面板区域(10)和压合区域(20),所述压合区域(20)上设置有多个数据信号端子(201)和多个扫描信号端子(202),用于将数据信号和扫描信号接入到液晶面板的像素单元中;(2)将所有的数据信号端子相互连接形成一个Date信号接收端,将所有的扫描信号端子分成多组扫描信号接收端G1、G2、…Gn,每一组扫描信号接收端采用所述的测试治具将其中的扫描信号端子(202)相互电性连接,其中,所述测试治具中的导电金属部(402)与所述扫描信号端子(202)相对连接;(3)将数据信号输入到所述Date信号接收端,将扫描信号输入到扫描信号接收端G1、G2、…Gn,对所述液晶面板进行点灯测试;(4)当检测到其中的某一点扫描信号端子(202)对应的液晶面板区域出现缺陷时,以出现缺陷对应的该点扫描信号端子(202)为基准,将所述点灯测试治具移动一个或多个扫描信号端子(202)的位置形成错位连接,假如缺陷点不跟随测试治具的移动而移动,则该缺陷点是真正的液晶面板缺陷;假如缺陷点随着测试治具的移动而移动,则该缺陷点不是真正的液晶面板缺陷。
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