发明名称 形成于SOI衬底上的静态随机存取存储器
摘要 本发明的形成于绝缘体上硅衬底上的静态随机存取存储器采用SOI衬底,第一上拉晶体管(PU-1)同第一下拉晶体管(PD-1)的漏极之间通过SOI衬底的第一连接有源区SL-1相连,同时第一连接有源区SL-1同所述第一传输门晶体管(PG-1)的源极相连;第二上拉晶体管(PU-2)同第二下拉晶体管(PD-2)的漏极之间通过SOI衬底的第二连接有源区SL-2相连,同时第二连接有源区SL-2同第二传输门晶体管(PG-2)的源极相连,无需采用第一金属层实现各个晶体管的互连,从而节省了一个金属层。
申请公布号 CN102298956B 申请公布日期 2016.05.04
申请号 CN201110159604.7 申请日期 2011.06.14
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 胡剑
分类号 G11C5/06(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I 主分类号 G11C5/06(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 郑玮
主权项 一种形成于SOI衬底上的静态随机存取存储器,包括多个静态随机存取存储单元,其特征在于,所述每个静态随机存取存储单元包括:第一上拉晶体管和第二上拉晶体管、第一下拉晶体管和第二下拉晶体管、第一传输门晶体管和第二传输门晶体管、第一金属层、位于所述第一金属层之上的第二金属层以及位于所述第二金属层之上的第三金属层;所述晶体管均形成在SOI衬底的有源区上;所述第一上拉晶体管同所述第一下拉晶体管的漏极之间通过所述SOI衬底的第一连接有源区相连,同时所述第一连接有源区同所述第一传输门晶体管的源极相连;所述第二上拉晶体管同所述第二下拉晶体管的漏极之间通过所述SOI衬底的第二连接有源区相连,同时所述第二连接有源区同所述第二传输门晶体管的源极相连;所述第一金属层提供位线及互补位线连接;同时通过接触孔形成的触点将第一上拉晶体管的漏极与第二上拉晶体管的栅极相连接,通过接触孔形成的触点将第二上拉晶体管的漏极与第一上拉晶体管的栅极相连接;所述第二金属层提供字线连接,所述第三金属层提供电源线Vdd和接地线Vss连接。
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