发明名称 客制化校准触控屏幕的方法及电子装置
摘要 本发明一实施例提供一种客制化校准触控屏幕的方法,其基于WinCE操作系统,适用于至少具有一触控屏幕的电子装置,包括下列步骤:显示一客制化校准接口于该触控屏幕;撷取该触控屏幕的多个参考点各自的触控位置采样值;根据该触控位置采样值和其校准参考值计算多个新校准参数;将该新校准参数更新至WinCE操作系统的注册表;以及将该新校准参数更新至WinCE操作系统的图形窗口事件子系统(Graphics,Windowing,and Events Subsystem,GWES)进程中。本发明的客制化校准触控屏幕的方法能提高客户客制化校准的自主性。
申请公布号 CN102890572B 申请公布日期 2016.01.20
申请号 CN201110201840.0 申请日期 2011.07.19
申请人 杰发科技(合肥)有限公司 发明人 陈登
分类号 G06F3/041(2006.01)I 主分类号 G06F3/041(2006.01)I
代理机构 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人 何青瓦
主权项 一种客制化校准触控屏幕的方法,其基于Windows CE操作系统,适用于至少具有一触控屏幕的电子装置,包括如下步骤:显示一客制化校准接口于该触控屏幕;撷取该触控屏幕的多个参考点各自的触控位置采样值;根据该触控位置采样值和其校准参考值计算多个新校准参数;将该新校准参数更新至Windows CE操作系统的注册表;以及将该新校准参数更新至Windows CE操作系统的图形窗口事件子系统进程中;其中,所述撷取该触控屏幕的多个参考点各自的触控位置采样值的步骤包括:在该触控屏幕的该多个参考点其中之一参考点的位置上显示一标记;判断用户是否点击该触控屏幕的该参考点,若是,则读取该触控屏幕的该参考点的触控位置原始值;判断该触控位置原始信号是否为有效值,若是,则将该触控位置原始信号记录为该参考点的触控位置采样值;以及重复上列所述撷取该触控屏幕的多个参考点各自的触控位置采样值的步骤直到撷取完所有该参考点的触控位置采样值。
地址 230000 安徽省合肥市望江西路800号创新产业园A3楼10层