DISCRETE COMPONENT BACKWARD TRACEABILITY AND SEMICONDUCTOR DEVICE FORWARD TRACEABILITY

摘要

반도체 디바이스에 포함되는 개별 소자들(다이, 기판 및/또는 패시브)을 식별하는 방법론에 의해 역방향 및 순방향 트레이서빌리티를 제공하기 위한 시스템이 개시된다. 본 기술은 고유한 식별자를 발생시키고 반도체 디바이스의 생산에 있어서 반도체 디바이스와 그 디바이스 내의 개별 소자들이 각 공정 및 테스트를 통해 추적 및 트레이스되는 것을 가능하게 해주는 고유한 식별자로 반도체 디바이스를 마킹하는 시스템을 더 포함한다.