发明名称 |
熔丝结构以及包括该熔丝结构的半导体装置 |
摘要 |
提供了一种熔丝结构以及包括该熔丝结构的半导体装置,所述熔丝结构包括:设置在场绝缘层中的第一鳍状图案,包括在场绝缘层的上表面上方突出的上表面;在场绝缘层上的导电图案,与第一鳍状图案交叉;第一半导体区,位于导电图案的至少一侧上;以及第一接触件和第二接触件,设置在第一鳍状图案的两侧上的导电图案上。 |
申请公布号 |
CN104979328A |
申请公布日期 |
2015.10.14 |
申请号 |
CN201510129060.8 |
申请日期 |
2015.03.23 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
崔贤民;前田茂伸 |
分类号 |
H01L23/525(2006.01)I;H01L27/06(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I;H01L21/8234(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/525(2006.01)I |
代理机构 |
北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 |
代理人 |
尹淑梅;刘灿强 |
主权项 |
一种熔丝结构,所述熔丝结构包括:设置在场绝缘层中的第一鳍状图案,包括在场绝缘层的上表面上方突出的上表面;在场绝缘层上的导电图案,与第一鳍状图案交叉;第一半导体区,位于导电图案的至少一侧上;以及第一接触件和第二接触件,设置在第一鳍状图案的两侧上的导电图案上。 |
地址 |
韩国京畿道水原市 |