发明名称 |
纳米线传感器芯片制备方法 |
摘要 |
本发明公开一种纳米线传感器芯片制备方法,在半导体圆片S1一面制备电极对阵列;在半导体圆片S2上制作垂直通孔对及溶液腔;将S1与S2键合;在S2垂直通孔内制造垂直引出电极、在S2表面制备电互连线对,电互连线对依次电连接S2上垂直引出电极;滴纳米线分散液至S2上的溶液腔,通过S2上引出电极施加交变电压,去除分散液;将S3与S1-S2键合圆片的S2暴露表面键合,图形化,刻蚀半导体圆片S3,在S3圆片区域制作微孔,暴露出S2上的垂直引出电极;划片,得到纳米线传感器芯片。该方法能够解决现有制备技术批量化、片内纳米线传感器参数重复性差等技术难题,提高生产效率,提高圆片内纳米线传感器参数重复性,降低成本。 |
申请公布号 |
CN104950077A |
申请公布日期 |
2015.09.30 |
申请号 |
CN201510293854.8 |
申请日期 |
2015.06.01 |
申请人 |
浙江北微信息科技有限公司 |
发明人 |
李文荣;魏武奇;田畑修;金玉丰;马盛林;时广轶;王春波 |
分类号 |
G01N33/00(2006.01)I;B82Y40/00(2011.01)I;B82Y15/00(2011.01)I |
主分类号 |
G01N33/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人 |
李相雨 |
主权项 |
一种纳米线传感器芯片制备方法,其特征在于,包括:a、在半导体圆片S1一面制备电极对阵列;b、在半导体圆片S2上制作与电极对阵列匹配的垂直通孔对及溶液腔;c、将半导体圆片S1与半导体圆片S2对准、圆片键合,其中,半导体圆片S1上电极部分通过半导体圆片S2垂直通孔暴露,半导体圆片S2溶液腔暴露出半导体圆片S1上电极对一侧;d、在半导体圆片S2垂直通孔内制造垂直引出电极、在半导体圆片S2表面制备电互连线对,电互连线对依次电连接半导体圆片S2上垂直引出电极;e、滴纳米线分散液至半导体圆片S2上的溶液腔,通过半导体圆片S2上引出电极施加一定频率的交变电压,利用交变电压产生的介电泳力沉积纳米线后,去除分散液;f、将半导体圆片S3与S1‑S2键合圆片的S2暴露表面键合,图形化,刻蚀半导体圆片S3,在半导体圆片S2上垂直引出电极之上及溶液腔之上的S3圆片区域制作微孔,暴露出半导体圆片S2上的垂直引出电极、形成纳米线传感器与外界接口;g、对半导体圆片S1、半导体圆片S2、半导体圆片S3进行划片,得到纳米线传感器芯片。 |
地址 |
312030 浙江省绍兴市绍兴县柯桥经济开发区西环路科技大厦236、237室 |