发明名称 |
半导体装置及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME |
摘要 |
对于包括电路的显示装置之性能而言,包括于电路中的薄膜电晶体之电特性的均匀性及稳定性是重要的。本发明之目的在于提供一种具有低的氢含量之氧化物半导体膜,其使用于具有良好界定的电特性之反交错型的薄膜电晶体。欲达成此目的,在不暴露于空气下,以溅射方法连续地形成闸极绝缘膜、氧化物半导体层及通道保护膜。在包括一部份的氧之气围中,形成氧化物半导体层,以限制氢污染。此外,使用矽、氧及/或氮的化合物,形成提供于氧化物半导体层的通道形成区域上方及下方的层。 |
申请公布号 |
TW201508929 |
申请公布日期 |
2015.03.01 |
申请号 |
TW103140462 |
申请日期 |
2010.05.11 |
申请人 |
半导体能源研究所股份有限公司 SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD. |
发明人 |
山崎舜平 YAMAZAKI, SHUNPEI;秋元健吾 AKIMOTO, KENGO |
分类号 |
H01L29/786(2006.01);H01L29/49(2006.01);H01L21/336(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/786(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 |
主权项 |
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地址 |
日本 JP |