发明名称 基于失效机理的元器件FMEA分析方法与系统
摘要 本发明提供一种基于失效机理的元器件FMEA分析方法与系统,对元器件进行FMEA结构划分,将元器件分解为功能单元,功能单元具有独立的失效机理,分析功能单元的失效机理和分析导致失效机理的失效模式,分析失效机理和失效模式对元器件的影响,根据功能单元的失效机理,构建失效物理模型,根据失效物理模型,分析引起失效机理的失效原因,整合元器件失效影响分析结果和引起失效机理的失效原因,获得FMEA分析结果,以提高元器件可靠性。整个元器件FMEA分析的起点是失效机理,在识别失效机理的基础上,对其失效物理模型进行分析,分析失效机理的加速因子,从深层次上对元器件进行准确的可靠性分析,准确反映元器件可靠性状况。
申请公布号 CN104166800A 申请公布日期 2014.11.26
申请号 CN201410401825.4 申请日期 2014.08.11
申请人 工业和信息化部电子第五研究所 发明人 来萍;陈媛;黄云;何小琦
分类号 G06F19/00(2011.01)I;G06F17/50(2006.01)I 主分类号 G06F19/00(2011.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 周清华;王东亮
主权项 一种基于失效机理的元器件FMEA分析方法,其特征在于,包括步骤:对元器件进行FMEA结构划分,将所述元器件分解为一个或者多个功能单元,其中,所述功能单元具有独立的失效机理;分析每个所述功能单元的失效机理,并分析所述失效机理导致的失效模式;分析所述功能单元的失效机理和所述失效模式对所述元器件的影响,获得元器件失效影响分析结果;根据所述功能单元的失效机理,构建所述功能单元的失效物理模型,根据所述功能单元的失效物理模型,分析引起所述失效机理的失效原因;整合所述元器件失效影响分析结果和引起所述失效机理的失效原因,获得元器件失效机理的FMEA分析结果。
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