发明名称 |
基于失效机理的元器件FMEA分析方法与系统 |
摘要 |
本发明提供一种基于失效机理的元器件FMEA分析方法与系统,对元器件进行FMEA结构划分,将元器件分解为功能单元,功能单元具有独立的失效机理,分析功能单元的失效机理和分析导致失效机理的失效模式,分析失效机理和失效模式对元器件的影响,根据功能单元的失效机理,构建失效物理模型,根据失效物理模型,分析引起失效机理的失效原因,整合元器件失效影响分析结果和引起失效机理的失效原因,获得FMEA分析结果,以提高元器件可靠性。整个元器件FMEA分析的起点是失效机理,在识别失效机理的基础上,对其失效物理模型进行分析,分析失效机理的加速因子,从深层次上对元器件进行准确的可靠性分析,准确反映元器件可靠性状况。 |
申请公布号 |
CN104166800A |
申请公布日期 |
2014.11.26 |
申请号 |
CN201410401825.4 |
申请日期 |
2014.08.11 |
申请人 |
工业和信息化部电子第五研究所 |
发明人 |
来萍;陈媛;黄云;何小琦 |
分类号 |
G06F19/00(2011.01)I;G06F17/50(2006.01)I |
主分类号 |
G06F19/00(2011.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
周清华;王东亮 |
主权项 |
一种基于失效机理的元器件FMEA分析方法,其特征在于,包括步骤:对元器件进行FMEA结构划分,将所述元器件分解为一个或者多个功能单元,其中,所述功能单元具有独立的失效机理;分析每个所述功能单元的失效机理,并分析所述失效机理导致的失效模式;分析所述功能单元的失效机理和所述失效模式对所述元器件的影响,获得元器件失效影响分析结果;根据所述功能单元的失效机理,构建所述功能单元的失效物理模型,根据所述功能单元的失效物理模型,分析引起所述失效机理的失效原因;整合所述元器件失效影响分析结果和引起所述失效机理的失效原因,获得元器件失效机理的FMEA分析结果。 |
地址 |
510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号 |