发明名称 一种BGA器件返修过程中转移膏状助焊剂的方法
摘要 本发明属于BGA器件返修工艺,具体涉及一种BGA器件返修过程中转移膏状助焊剂的方法。目的是提供一种精确控制BGA器件返修过程中焊球表面涂覆膏状助焊剂高度的工艺方法,防止因为BGA焊球焊接不当而造成BGA器件或印制板的报废。步骤1.根据返修BGA器件的焊球直径,确认焊球的实际高度H;步骤2.使用方形平底的容器盛装助焊剂;步骤3.将方形平底的容器置于返修工作台的元件拾取托盘上;步骤4.将BGA器件焊球一侧浸入膏状助焊剂模具中,并使用拾取吸嘴将BGA器件的焊球接触到膏状助焊剂模具的底模时为止,完成BGA器件的助焊剂涂抹工作。当膏状助焊剂浸润的高度占焊球实际高度的45%~55%时,焊接质量最优。本发明主要通过精确控制焊膏转移过程中膏状助焊剂的涂覆高度,使得膏状助焊剂浸润高度处于45%~55%H区间,来保证BGA器件的返修质量。
申请公布号 CN102990183B 申请公布日期 2014.10.01
申请号 CN201110266688.4 申请日期 2011.09.09
申请人 中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所 发明人 苟俊峰;曾立云;谭磊;焦淑萍
分类号 B23K3/08(2006.01)I 主分类号 B23K3/08(2006.01)I
代理机构 核工业专利中心 11007 代理人 高尚梅
主权项 一种BGA器件返修过程中转移膏状助焊剂的方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤1.根据返修BGA器件的焊球直径,确认焊球的实际高度H;<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>H</mi><mo>=</mo><mfrac><mn>1</mn><mn>2</mn></mfrac><mrow><mo>(</mo><mi>D</mi><mo>+</mo><msqrt><msup><mi>D</mi><mn>2</mn></msup><mo>-</mo><msup><mi>d</mi><mn>2</mn></msup></msqrt><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow>]]></math><img file="FDA0000090185740000011.GIF" wi="1242" he="105" /></maths>其中,D为焊球的直径,d为焊盘的直径;步骤2.使用方形平底的容器盛装助焊剂,助焊剂厚度L满足下述关系式;<maths num="0002" id="cmaths0002"><math><![CDATA[<mrow><mi>L</mi><mo>=</mo><mfrac><mn>1</mn><mn>2</mn></mfrac><mi>H</mi><mo>-</mo><mfrac><mrow><mi>n&pi;</mi><mrow><mo>(</mo><msup><mi>H</mi><mn>2</mn></msup><mi>D</mi><mo>-</mo><mfrac><mn>1</mn><mn>6</mn></mfrac><msup><mi>H</mi><mn>3</mn></msup><mo>)</mo></mrow></mrow><mrow><mn>8</mn><mi>ab</mi></mrow></mfrac><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>2</mn><mo>)</mo></mrow></mrow>]]></math><img file="FDA0000090185740000012.GIF" wi="1120" he="184" /></maths>其中,H为式(1)所述BGA焊球的实际高度,n为返修BGA器件的焊球数量,D为焊球的直径,a为方形容器内壁的长度,b为方形容器内壁的宽度;步骤3.将方形平底的容器置于返修工作台的元件拾取托盘上;步骤4.将BGA器件焊球一侧浸入膏状助焊剂模具中,并使用拾取吸嘴将BGA器件的焊球接触到膏状助焊剂模具的底模时为止,完成BGA器件的助焊剂涂抹工作。
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