发明名称 |
对相关组织样本进行光学分析的设备 |
摘要 |
了改进荧光测量,提供一种用于对相关组织样本进行光学分析的设备、方法和计算机程序,所述设备包括光谱仪(其包括光学探测器)、光源、被布置为向相关组织样本发射光子的第一光发射器219、被布置为从相关组织样本接收光子的第一光收集器221、第二光发射器223、第二光收集器225,其中,经由第一光发射器219和第一光收集器221获得反射光谱,并且经由第二光发射器223和第二光收集器225获得荧光光谱,其中,第一光发射器与第一光收集器之间的第一距离d1大于第二光发射器与第二光收集器之间的第二距离d2。通过对这样获得的数据进行组合,可以获得本征荧光光谱。 |
申请公布号 |
CN103635131A |
申请公布日期 |
2014.03.12 |
申请号 |
CN201280032014.0 |
申请日期 |
2012.06.21 |
申请人 |
皇家飞利浦有限公司 |
发明人 |
M·米勒;B·H·W·亨德里克斯;W·C·J·比尔霍夫;G·W·吕卡森;J·J·L·霍里克斯;R·纳沙贝;M·范德沃尔特 |
分类号 |
A61B5/00(2006.01)I |
主分类号 |
A61B5/00(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
李光颖;王英 |
主权项 |
一种用于对相关组织样本(116)进行光学分析的设备(100),所述设备包括:‑光谱仪(110、111),其包括光学探测器(108、109),‑光源(104、106),‑第一光发射器(219),其被布置为向所述相关组织样本发射光子,‑第一光收集器(221),其被布置为从所述相关组织样本接收光子,‑第二光发射器(223),其被布置为向所述相关组织样本发射光子,‑第二光收集器(225),其被布置为从所述相关组织样本接收光子,并且其中,所述光谱仪、所述光源、所述第一光发射器(219)和所述第一光收集器(221)被布置为获得表示从包括如下光谱的组中选择的光谱的第一数据集:所述相关组织样本(116)的反射光谱、透射光谱和吸收光谱,并且其中,所述光谱仪、所述光源、所述第二光发射器(223)和所述第二光收集器(225)被布置为获得表示所述相关组织样本(116)的荧光光谱的第二数据集,所述设备还包括‑处理器(113),其被布置为:‑接收所述第一数据集,‑接收所述第二数据集,以及‑基于所述第一数据集和所述第二数据集来确定表示所述相关组织样本的本征荧光光谱的第三数据集,其中,所述第一光发射器(219)与所述第一光收集器(221)之间的第一距离(d1)基本大于所述第二光发射器(223)与所述第二光收集器(225)之间的第二距离(d2)。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |