发明名称 光电动势装置的制造方法
摘要 本发明提供一种光电动势装置的制造方法。不会比以往相比降低向外部电路取出光电流的效率,而可以与以往相比改善光电变换效率。具备:P型硅基板(101);在光的入射面侧形成的按照第1浓度扩散了N型的杂质的低电阻N型扩散层(102L);在低电阻N型扩散层(102L)上形成的栅电极(111);在背面形成的P+层(110);以及在P+层(110)上形成的背面电极,具有以从低电阻N型扩散层(102L)的上表面到达硅基板(101)的方式,按照规定间隔设置的凹部(106),在相邻的凹部(106)之间的区域的上表面,包括低电阻N型扩散层(102L),在从凹部(106)的形成面起规定的深度的范围中,形成了按照比第1浓度低的第2浓度扩散了N型的杂质的高电阻N型扩散层(102H)。
申请公布号 CN103400898A 申请公布日期 2013.11.20
申请号 CN201310332650.1 申请日期 2008.03.27
申请人 三菱电机株式会社 发明人 石原隆;西村邦彦
分类号 H01L31/18(2006.01)I 主分类号 H01L31/18(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 金春实
主权项 一种光电动势装置的制造方法,包括:第1扩散层形成工序,在第1导电类型的多晶硅或者单晶硅基板的光的入射面侧,使第2导电类型的杂质扩散,从而形成第1浓度的第1扩散层;耐蚀刻膜形成工序,在所述第1扩散层上形成具有耐蚀刻性的耐蚀刻膜;微细孔形成工序,在所述耐蚀刻膜上的规定的位置形成微细孔,使所述第1扩散层露出;凹部形成工序,以所述第1扩散层的露出位置为中心,对所述第1扩散层和所述多晶硅或者单晶硅基板进行蚀刻,以使在相邻的凹部之间的所述第1扩散层的上表面平坦的方式形成凹部;第2扩散层形成工序,在形成所述凹部的面扩散低于所述第1浓度的第2浓度的第2导电类型的杂质,从而形成第2扩散层;以及表面电极形成工序,在所述凹部形成工序中形成的具有平坦的上表面的所述第1扩散层上,形成栅电极和连接所述栅电极之间的汇流电极,所述第1扩散层的薄膜电阻大于等于30Ω/□且小于60Ω/□,所述第2扩散层的薄膜电阻大于等于60Ω/□且小于150Ω/□,所述栅电极在接合部分中与所述第1扩散层接触,由此所述第1扩散层得到与所述栅电极以及所述汇流电极的良好的电阻性接合。
地址 日本东京