一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法

摘要

本发明公开了一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法，其制备步骤包括：a、熔融：将基材加热至熔融温度后，加入待测样品，基材与待测样品混合分散均匀后，将混合物板材放入模具中，并将混合物板材与模具间用聚酯膜隔开；b、压片成型：135～145℃下将模具中的混合物板材压片成型后，经冷却定型及机械切割，制得样品。采用本发明的方法，可制备目标元素质量百分含量为ppm级的X荧光光谱分析用标准样品，制备的样品表面光滑，内部无气泡，具有良好的均匀性与稳定性，符合ROHS分析用标准样品的量值要求，且具有一定的浓度梯度分布，能达到一级标准物质对特性量均匀性、稳定性的要求。

主权项

一种X荧光光谱分析用标准样品的制备方法，其特征在于，包含以下制备步骤：a、熔融：将基材加热至熔融温度后，加入待测样品，基材与待测样品混合分散均匀后，将混合均匀的混合物板材放入模具中，混合物板材与模具间用聚酯膜隔开；b、压片成型：135～145℃下将模具中的混合物板材压片成型后，经冷却定型及机械切割，制得样品。