发明名称 |
一种平面误差度测量设备及测量方法 |
摘要 |
本发明涉及检测设备技术领域,公开了一种平面误差度测量设备及测量方法,所述设备包括:支架;螺旋尺,包括具有内螺纹的螺旋套和定位套,螺旋套上设置有刻度表盘和环形滑槽,定位套滑动装配于该环形滑槽内,且具有与刻度表盘相对的基准刻度;至少三个支撑脚,将支架和定位套连接;探测针装置,包括与螺旋尺螺纹连接的螺旋杆,以及与螺旋杆连接的探测针;限位套,套在探测针装置上并与支架固定连接,用于限制螺旋杆随螺旋套一起转动。本发明有益效果是通过探测针来测量被测部件上各个点的竖直位置,从而检测被测部件的平面度是否合格。在检测时仅需一个平面基准板就可以对被测部件进行检测,可以快速、便捷的检测部件的平面度。 |
申请公布号 |
CN103033122A |
申请公布日期 |
2013.04.10 |
申请号 |
CN201210559853.X |
申请日期 |
2012.12.20 |
申请人 |
北京小米科技有限责任公司 |
发明人 |
高原;郑严;王化鹏 |
分类号 |
G01B5/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01B5/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 |
代理人 |
黄志华 |
主权项 |
一种平面误差度测量设备,其特征在于,所述设备包括:支架(50);螺旋尺,包括具有内螺纹的螺旋套(10)和定位套(20),其中,所述螺旋套(10)的外周表面设置有刻度表盘(11)和环形滑槽(12),所述定位套(20)滑动套装于所述环形滑槽(12)内,且具有与刻度表盘(11)相对的基准刻度;至少三个支撑脚(70),至少三个所述支撑脚(70)的支撑点确定支撑平面,每个支撑脚(70)均与所述支架(50)和定位套(20)连接,且所述支架(50)和定位套(20)的放置平面分别与所述支撑平面平行;探测针装置,包括与螺旋套(10)螺纹连接的螺旋杆(30),以及与螺旋杆(30)连接并垂直指向所述支撑平面的探测针(60),所述螺旋杆(30)外周表面具有限位凸起(31);限位套(40),滑动套装于所述螺旋杆(30)上并与支架(50)固定连接,且限位套(40)的内壁上设置有限位槽(41),所述螺旋杆(30)上的限位凸起(31)位于该限位槽(41)内。 |
地址 |
100102 北京市朝阳区望京西路甲50号卷石天地大厦A座12层 |