发明名称 具有改进的操作点调整的、检测运转纱线中的缺陷的方法
摘要 本发明涉及一种非接触检测运转纱线(5)中的缺陷的方法,其中,缺陷具体由突出的丝线(7)或由丝线断裂或由夹带的污物颗粒或棉绒球形成,其中,在纺织机上,优选地在纺织机的卷绕位置或卷绕装置上,使用具有至少三个光栅(2,3)的几何光学传感器单元(1),其中称为遮挡光栅的第一光栅(3)形成遮挡光学器件,所述运转纱线(5)穿过所述遮挡光学器件,并且所述遮挡光学器件检测所述运转纱线(5)的结构,而在所述三个光栅(2,3)中,至少两个另外的触发光栅(2)被设置为与所述纱线(5)相距不同的距离和/或设置在所述纱线(5)的不同侧,使得只有所述运转纱线(5)的缺陷才引起所述触发光栅的遮挡,其中,持续地或以预定时间调整或跟踪所述触发光栅的操作点,以补偿所述触发光栅上可能的污物累积或抑制所述几何光学传感器单元的组件的老化症状,其中,在所述触发光栅(2)上发生的操作点漂移被应用到所述遮挡光栅(3),使得所述遮挡光栅(3)的操作点基于与所述触发光栅(2)的操作点漂移的预定依赖关系而被调整或跟踪。
申请公布号 CN102906560A 申请公布日期 2013.01.30
申请号 CN201180012271.3 申请日期 2011.03.04
申请人 威克股份有限公司 发明人 费迪南德·约瑟夫·赫尔曼斯;罗尔夫·哈森
分类号 G01N21/89(2006.01)I 主分类号 G01N21/89(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人 姜燕;邢雪红
主权项 一种非接触检测运转纱线(5)中的缺陷的方法,其中,缺陷具体由突出的丝线(7)或由丝线断裂或由夹带的污物颗粒或棉绒片形成,其中,在纺织机上,优选地在纺织机的卷绕位置或卷绕装置上,使用具有至少三个光栅(2,3)的几何光学传感器单元(1),其中称为遮挡光栅的第一光栅(3)形成遮挡光学器件,所述运转纱线(5)穿过所述遮挡光学器件,并且所述遮挡光学器件检测所述运转纱线(5)的结构,而在所述三个光栅(2,3)中,至少两个另外的触发光栅(2)被设置为与所述纱线(5)相距不同的距离和/或设置在所述纱线(5)的不同侧,使得只有所述运转纱线(5)的缺陷才引起所述触发光栅的遮挡,以及其中持续地或以预定时间调整或跟踪所述触发光栅的操作点,以补偿所述触发光栅上可能的污物累积或抑制所述几何光学传感器单元的组件的老化症状,其特征在于,在所述触发光栅(2)上发生的操作点漂移被应用于所述遮挡光栅(3),使得所述遮挡光栅(3)的操作点基于与所述触发光栅(2)的操作点漂移的预定依赖关系而被调整或跟踪。
地址 德国门兴格拉德巴赫