发明名称 一种通道式X射线安全检查设备透射图像形变校正方法
摘要 本发明涉及一种通道式X射线安全检查设备透射图像形变校正方法,包括以下步骤:1)计算探测器的投影比例因子:根据通道式X射线安全检测设备中X射线源、物体通道平面以及探测板三者之间的位置关系,计算每一块探测器板及板上各探测器的投影比例因子;2)计算探测器形变校正因子:针对每一个探测器,分别计算得到一个形变校正因子;3)插值放大处理:根据形变校正因子的差异,对透射图像各像素点进行插值放大处理,得到形变校正结果图像。本发明的有益效果为:可以在现有通道式X射线安全检查设备的基础上,不增加任何硬件成本,仅通过本发明图像形变校正方法实现对透射图像的形变校正,减少安检员的漏判和误判。
申请公布号 CN102230975A 申请公布日期 2011.11.02
申请号 CN201110087882.6 申请日期 2011.04.08
申请人 上海瑞示电子科技有限公司 发明人 杨奎;李启磊;王满仓
分类号 G01V5/00(2006.01)I 主分类号 G01V5/00(2006.01)I
代理机构 北京纽乐康知识产权代理事务所 11210 代理人 唐忠庆
主权项 一种通道式X射线安全检查设备透射图像形变校正方法,其特征在于,包括以下步骤:1)计算探测器的投影比例因子:根据通道式X射线安全检测设备中X射线源、物体通道平面以及探测板三者之间的位置关系,计算每一块探测器板及板上各探测器的投影比例因子;2)计算探测器形变校正因子:针对每一个探测器,分别计算得到一个形变校正因子,形变校正因子用于对经过步骤1)获得的投影比例因子进行修正;3)插值放大处理:以经过步骤2)获得的探测器的形变校正因子为依据,对透射图像进行形变校正,根据形变校正因子的差异,对透射图像各像素点进行插值放大处理,得到形变校正结果图像。
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