发明名称 |
一种ITO测试板和测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种ITO测试板,该测试板包括玻璃基板、ITO导电层和绝缘层,其中,ITO导电层涂覆于玻璃基板上,绝缘层涂覆于ITO导电层的部分或全部表面;该ITO测试板可仿真STN或CSTN液晶显示器的ITO电极走线。本发明还公开了一种使用ITO测试板的测试方法,该方法将ITO测试板置于预定温度湿度的环境中,对ITO电极通以一定时间的工作电压,对ITO测试版的腐蚀情况进行评估。采用本发明的方案,可以对影响ITO玻璃腐蚀的因素进行有效、客观地测试和评估。 |
申请公布号 |
CN101339302B |
申请公布日期 |
2010.06.16 |
申请号 |
CN200710075821.1 |
申请日期 |
2007.07.05 |
申请人 |
比亚迪股份有限公司 |
发明人 |
郑枫;石道才;周佩先 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
北京市立方律师事务所 11330 |
代理人 |
张磊 |
主权项 |
一种ITO测试板,其特征是:包括玻璃基板、ITO导电层、绝缘层,该ITO导电层涂覆于该玻璃基板上,且该绝缘层涂覆于该ITO导电层的部分或全部表面,其中所述ITO导电层包括若干分区,每一分区包括二条线宽一致、线距一致、走线平行的ITO平行电极。 |
地址 |
518119 广东省深圳市龙岗区葵涌镇延安路比亚迪工业园 |