发明名称 |
一种测定基体残余应力的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种测定基体残余应力的方法,它包括步骤:确定温差、待测涂层和基体的各项参数;计算弯矩轴线到涂层与基体界面的距离δ、曲率K,以及基体平面力引起的平面方向的应变分量ε<sub>s</sub><sup>0</sup>;根据公式ε<sub>s</sub>=ε<sub>s</sub><sup>0</sup>+K(z+δ)计算出基体的应变;根据公式σ<sub>s</sub>=E<sub>s</sub>′ε<sub>s</sub>计算出基体内部的残余应力σ<sub>s</sub>。本发明根据弹性力学原理,不仅可精确测定出一般的多层涂层基体内部的残余应力值,而且还可精确测定出功能梯度涂层基体内部的残余应力值,为涂层制造前的优化设计提供有效的理论依据。 |
申请公布号 |
CN101477031A |
申请公布日期 |
2009.07.08 |
申请号 |
CN200810055925.0 |
申请日期 |
2008.01.02 |
申请人 |
中国人民解放军装甲兵工程学院 |
发明人 |
徐滨士;张显程;王海斗;吴毅雄 |
分类号 |
G01N19/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N19/04(2006.01)I |
代理机构 |
北京北新智诚知识产权代理有限公司 |
代理人 |
张卫华 |
主权项 |
1、一种测定基体残余应力的方法,适用于涂层结构处于平面应变状态,其特征在于,它包括如下步骤:1)确定温差ΔT,待测涂层的层数n,基体的厚度t<sub>s</sub>、有效弹性模量<img file="A200810055925C0002112235QIETU.GIF" wi="66" he="80" />、热膨胀系数α<sub>s</sub>,和涂层各层的厚度t<sub>i</sub>、有效弹性模量<img file="A200810055925C00021.GIF" wi="66" he="54" />热膨胀系数α<sub>i</sub>,下标i表示多层涂层的第i层涂层,下标s表示基体;2)根据上面得到的参数,计算弯矩轴线到涂层与基体界面的距离δ、曲率K,以及基体平面力引起的平面方向的应变分量<img file="A200810055925C00022.GIF" wi="67" he="53" />下标i表示多层涂层的第i层涂层;3)根据界面协调条件和涂层结构力与弯矩的平衡条件,将得到的距离δ、曲率K、应变分量<img file="A200810055925C00023.GIF" wi="41" he="54" />代入公式ε<sub>s</sub>=ε<sub>s</sub><sup>0</sup>+K(z+δ),从而计算出基体的应变ε<sub>s</sub>,其中,-t<sub>s</sub>≤z≤0,z为沿厚度方向的坐标;4)根据公式<maths num="0001"><![CDATA[<math><mrow><msub><mi>σ</mi><mi>s</mi></msub><mo>=</mo><msubsup><mi>E</mi><mi>s</mi><mo>′</mo></msubsup><msub><mi>ϵ</mi><mi>s</mi></msub><mo>,</mo></mrow></math>]]></maths>计算出基体内部的残余应力σ<sub>s</sub>。 |
地址 |
100072北京市丰台区杜家坎21号装甲兵工程学院院士办 |