基于温度实验的光纤环性能测评系统

摘要

本发明提供的是一种基于温度实验的光纤环性能测评系统。由高精度光纤陀螺用宽谱光源(1)、保偏光纤耦合器(2)、Y波导(3、4)、待测光纤环(5)、快速温度控制试验箱(6)、高灵敏度光功率计(7、8、9)、用于计算机串口或GPIB口数据接收的计算机及程序(10、11、12)组成。本发明提出了一种基于温度激励实验的、无需电路配合的光纤环性能检测方法。根据经Y波导起偏后输出功率的变化来反映温度变化对光纤环中光信号偏振态的影响，由对称光路检测光纤环两端的输出信号的对称性，并检测热非互易相移对干涉效果的影响。在应用同一套测量装置及测试方法时，能给出光纤环质量可靠的对比性指标值，为高性能光纤环的选出提供标准。

主权项

1、一种基于温度实验的光纤环性能测评系统，包括高精度光纤陀螺用宽谱光源(1)、保偏光纤耦合器(2)、Y波导(3、4)、待测光纤环(5)、快速温度控制试验箱(6)、高灵敏度光功率计(7、8、9)、用于计算机串口或GPIB口数据接收的计算机及程序(10、11、12)，其特征是：宽谱光源(1)的输出接保偏光纤耦合器(2)的一输入端(13)，保偏光纤耦合器的两输出端(14、15)分别接两Y波导(3、4)的一个Y分支端，而Y波导的单端(16、17)与待测光纤环(5)相连接，待测光纤环与其支架整体一起放入快速温控箱(6)中，两个Y波导剩余的两个分支18、19连接高灵敏度光功率计(7、8)，并与接收数据的计算机相连，保偏光纤耦合器的剩余端20连接高灵敏度光功率计(9)，并与接收数据的计算机相连。