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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Präparation einer Matrixschicht auf einem Probenträger für die massenspektrometrische Analyse. Die Erfindung besteht darin, dass ein von der Matrixschicht abgeschwächtes, reflektiertes oder gestreutes Lichtsignal detektiert wird, und das Lichtsignal für eine Qualitätsprüfung der Matrixschicht oder für eine Regelung der Präparation der Matrixschicht verwendet wird.
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