发明名称 定位测量装置及方法
摘要 提供一种定位测量方法,该方法包括:导入一标准件影像档;在该标准件影像档中选取一个或者多个测量点,以每一测量点为中心点选取一第一区域及一第二区域;记录上述所选取之每一测量点之第一区域在影像档中之位置并截取第二区域之影像生成一脚本档,并将该脚本档存储于该存储单元中;导入被测件影像档;运行上述脚本档,根据脚本档中所记录之标准件影像档中各测量点之第一区域之位置在被测件影像档中确定一第三区域,在该第三区域中以单位位移移动该所截取之第二区域影像,选取与该第二区域影像最接近之一第四区域作为测量区。同时,提供一定位测量装置。
申请公布号 TWI291544 申请公布日期 2007.12.21
申请号 TW095140835 申请日期 2006.11.03
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 发明人 曾盛鹏;蒲小满
分类号 G01B11/00(2006.01) 主分类号 G01B11/00(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种定位测量装置,与一影像获取装置相连,包括 一存储单元、一中央处理单元及一输入单元,其特 征在于,该测量装置之中央处理单元包括: 一物件影像导入模组,根据接收到之通过该输入单 元输入之控制指令控制该影像获取装置获取物件 影像档,并将所述物件影像档导入测量装置,所述 物件影像档为标准件影像档或被测件影像档; 一标准件测量区选取模组,在该标准件影像档上选 取一个或者多个测量点,以每一测量点为中心点选 取一第一区域及一第二区域,且第一区域之区域大 小大于第二区域之区域大小; 一标准脚本档生成模组,记录上述所选取之每一测 量点之第一区域在该标准件影像档中之位置并截 取第二区域之影像生成一脚本档,并将该脚本档存 储于该存储单元中; 一被测件测量区域确定模组,运行上述脚本档,根 据脚本档中所记录之标准件影像档中各测量点之 第一区域之位置在该被测件影像档中确定一第三 区域,在该第三区域中获取与该第二区域影像相似 度最大一第四区域为被测件测量区。 2.如申请专利范围第1项所述之测量装置,其中,该 影像获取装置可为一扫描装置。 3.如申请专利范围第1项所述之测量装置,其中,该 被测件测量区域确定模组确定该测量区之中心点 以作为该被测件之一测量点。 4.如申请专利范围第1项所述之测量装置,其中,该 中央处理单元还包括一测量模组,用于测量该测量 区之RGB値。 5.如申请专利范围第1项所述之测量装置,其中,该 中央处理单元还包括一测量模组,用于测量所确定 之两个测量点之间之距离。 6.如申请专利范围第1项所述之测量装置,其中,选 取该第四区域作为被测件测量区之具体为:在该第 三区域中以单位位移移动该所截取之第二区域影 像,记录每次移动后该第二区域影像在被测件影像 档中所处之区域为Tm,获取该区域Tm之影像Sm,计算 该第二区域影像与影像Sm之相似度Dm;选择Dm値最小 之影像Sm作为相似度最大之影像S',该影像S'所在区 域即为被测件之测量区,其中下标m为第二区域影 像在该第三区域中第m个单位位移。 7.如申请专利范围第6项所述之测量装置,其中,相 似度Dm之计算公式为:Dm=[Tn-In]2,其中,Tn为第二区 域影像第n个单位像素之亮度値,In为与第二区域影 像对应之被测件影像之第n个单位像素之亮度値,Dm 为移动第m个单位位移时第二区域影像与该第二区 域影像在被测件中所对应区域影像之对应单位像 素亮度之差平方和。 8.一种定位测量方法,其特征在于,该方法包括: 导入一标准件影像档; 在该标准件影像档中选取一个或者多个测量点,以 每一测量点为中心点选取一第一区域及一第二区 域,且第一区域之区域大小大于第二区域之区域大 小; 记录上述所选取之每一测量点之第一区域在影像 档中之位置并截取第二区域之影像生成一脚本档, 并将该脚本档存储于该存储单元中; 导入被测件影像档; 运行上述脚本档,根据脚本档中所记录之标准件影 像档中各测量点之第一区域之位置在被测件影像 档中确定一第三区域,在该第三区域中以预设位移 移动所截取之第二区域影像,选取与该第二区域影 像最相似之一第四区域作为测量区。 9.如申请专利范围第8所述之测量方法,其中,还包 括在确定被测件影像档之测量区后,确定该测量区 之中心点为测量点之步骤。 10.如申请专利范围第8项所述之测量方法,其中,还 包括自动测量所确定之两个测量点之间之距离之 步骤。 11.如申请专利范围第8项所述之测量方法,其中,还 包括自动测量测量区之RGB値之步骤。 图式简单说明: 图1为定位测量系统之硬体架构图。 图2为测量装置之中央处理单元所执行之功能模组 图。 图3~图6为使用本发明之测量系统测量一转轴之轴 部直径之过程示意图。 图7为定位测量方法生成脚本档之流程图。 图8为定位测量方法测量过程之流程图。
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