发明名称 Vorrichtung und Verfahren zur Steuerung der Oberflächentemperatur eines Substrates in einer Prozesskammer
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Steuerung der Oberflächentemperatur eines in einer Prozesskammer (12) eines CVD-Reaktors von einem Substrathalterträger (1) auf einem von einem Gasstrom gebildeten dynamischen Gaspolster (8) getragenen Substrathalter (2) aufliegenden Substrats (9), wobei die Wärmezufuhr zum Substrat (9) zumindest teilweise durch Wärmeleitung über das Gaspolster erfolgt. Um die lateralen Abweichungen der Oberflächentemperatur eines Substrats von einem Mittelwert zu vermindern, wird vorgeschlagen, dass der das Gaspolster (8) ausbildende Gasstrom von zwei oder mehr Gasen (17, 18) mit unterschiedlich hoher spezifischer Wärmeleitfähigkeit gebildet wird und die Zusammensetzung abhängig von einer gemessenen Substrattemperatur variiert wird.
申请公布号 DE102006018514(A1) 申请公布日期 2007.10.25
申请号 DE200610018514 申请日期 2006.04.21
申请人 AIXTRON AG 发明人 KAEPPELER, JOHANNES;FRANKEN, WALTER
分类号 C23C16/46;C23C16/52 主分类号 C23C16/46
代理机构 代理人
主权项
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