用动态可重新配置的测试电路来跟踪硬件状态的方法和装置

摘要

一种使用动态可重新配置的测试电路来跟踪硬件状态的方法和装置，为实现在现场可编程逻辑阵列(FPGA)中的功能逻辑模块提供了改进的发现和排除故障能力。为了用FPGA增强系统的发现和排除故障的能力，可以加载特定的测试逻辑配置。寄存器被用来捕捉跟踪程序访问的内部信号的抽点打印，而测试多路复用器被用来提供到外部测试设备使用的测试插脚的实时输出。借助于用其中使用FPGA的系统上运行的跟踪程序取回硬件抽点打印信息，调整了软件和硬件对故障的发现和排除，提供了整个系统性能的高级模式。在测试逻辑配置中实现了特定的测试电路，以便能够检测各种各样的事件和错误。当系统处理器执行达到硬件跟踪点或当事件发生时，计数器被用来捕捉计数值。比较器被用来检测具体数据或地址值，而事件检测器被用来检测发生在功能逻辑模块中的特定的逻辑值组合。

主权项

1.一种用动态可重新配置的测试电路来跟踪现场可编程逻辑电路中的功能逻辑模块内的硬件状态的方法，所述方法包含下列步骤：首先从多个用来跟踪所述功能逻辑工作的测试模式模块选择一种测试模式；在选择测试模式的所述步骤之后，接着选择与所述被选择的测试模式一致的所述动态可重新配置的测试电路的多个配置之一；用所述被选择的配置来配置所述现场可编程逻辑电路，以配置所述动态可重新配置的测试电路；通过执行一个测试程序来跟踪程序码的执行，以产生软件跟踪历史；周期性地读取所述动态可重新配置的测试电路内的寄存器组，以便响应于在所述跟踪步骤期间接收到硬件跟踪请求而产生硬件跟踪记录；以及与所述软件跟踪历史同步地记录所述寄存器组的内容，以产生完整的跟踪历史。