半导体集成电路及其测试方法

摘要

通过在正常操作模式与测试模式之间切换电源电路，而可靠地以低功率测试半导体集成电路的操作容限，其中在正常操作模式中，第一升压电源对存储芯和降压电源供电，以及在测试模式中，该存储芯由提供用于测试的波动电压的外部测试电源所供电，并且该降压电源由第二升压电源所供电。

主权项

1.一种半导体集成电路，其可以使施加到升压电源线的电压发生波动而被测试，其中包括：连接到升压电源线的外部电源连接端，第一升压电路，第二升压电路，以及内部电源电压产生电路，其中当该半导体集成电路要被测试时，外部电源连接端连接到外部电源，以及内部电源电压产生电路根据来自第二升压电路的功率产生内部电源电压。