Adapter zum Testen von Leiterplatten

摘要

Die Erfindung betrifft einen Adapter zum Testen einer Leiteranordnung, insbesondere zum Testen eines Chip-Carriers. Eine solche Leiteranordnung weist an einer Seite Kontaktelemente auf, die nicht mit hoher Dichte angeordnet sind und einen Mindestabstand von z. B. 0,5 mm besitzen. Der Adapter besitzt zumindest ein Kontaktfeld mit jeweils einem Satz Kontaktelemente, wobei mit den Kontaktelementen des Kontaktfeldes eine Leiteranordnung an den nicht sehr dicht ausgebildeten Kontaktstellen kontaktierbar ist. Die Kontaktelemente dieses Kontaktfeldes sind mit jeweils einem Kontaktelement dieses oder eines anderen Kontaktfeldes elektrisch verbunden, so dass die Leiterbahnen zwei Leiteranordnungen elektrisch miteinander verbunden sind und gleichzeitig getestet werden können.