发明名称 周边记忆体连接线路之自我测试装置及其方法
摘要 本发明揭露一种周边记忆体连接线路之自我测试装置及其方法,用以改善知之周边记忆体连接线路在侦错上需大量耗费时间、人力及仪器设备之缺点。本发明在装置方面包含一测试样本产生器、一记忆体控制模组、一比较器及一输出模组。该测试样本产生器系用于产生测试该周边记忆体之连接线路及记忆单元是否有错误之测试样本。该记忆体控制模组用于产生测试用之位址及控制信号。该比较器用于比较该测试样本和自该周边记忆体读回之值是否相同。该输出模组用于记录测试状态与结果,若比较结果为错误时,该错误之测试样本及其位于该周边记忆体之位址可由此读出分析判断,进而快速发现错误的原因。
申请公布号 TW451213 申请公布日期 2001.08.21
申请号 TW088121670 申请日期 1999.12.10
申请人 民生科技股份有限公司 发明人 陈贵祥;温松桦;王顺平
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种周边记忆体连接线路之自我测试装置,用于测试连接于该周边记忆体之一位址滙流排线路及一资料滙流排线路之正确性,包含:一测试样本产生器,用于产生一测试该位址滙流排线路及该资料滙流排内之未相邻线路是否有错误之第一测试样本,及测试该资料滙流排相邻线路是有错误之第二测试样本和第三测试样本;一记忆体控制模组,连接于该测试样本产生器,用于产生测试该周边记忆体之位址及控制信号;一比较器,用于比较该测试样本产生器之第一至第三测试样本及该资料滙流排之値是否相同;及一输出模组,连接于该比较器,当该比较器之比较结果为错误时用于记录测试样本及该测试样本位于该周边记忆体之位址。2.如申请专利范围第1项之装置,其中该第一测试样本系储存该周边记忆体之位址、该位址之互补信号及该位址之互斥或信号。3.如申请专利范围第1项之装置,其中该第二测试样本为复数个十六进位的55所组成,而该第三测试样本为复数个十六进位的AA所组成。4.如申请专利范围第3项之装置,其中在测试该资料滙流排相邻线路是有错误时,系将该第二测试样本和第三测试样以互相交错的方式储存于该周边记忆体。5.如申请专利范围第1项之装置,其中该输出模组更用于转换该周边记忆体之二维位址至一个一维位址。6.一种周边记忆体连接线路之自我测试方法,用于测试连接于该周边记忆体之一位址滙流排及一资料滙流排之正确性,包含下列步骤:(a)将一测试该位址滙流排线路及该资料滙流排内之未相邻线路是否有错误之第一测试样本依序写入该周边记忆体内;(b)由该周边记忆体依序读出资料并与该第一测试样本比较;(c)若比较之结果不同则视为错误,并进入步骤(k);(d)若比较之结果相同则将一测试该资料滙流排之相邻线路是否有错误之第二及第三测试样本依序交替写入该周边记忆体,其中该第二测试样本为复数个十六进位的55所组成,而该第三测试样本为复数个十六进位的AA所组成;(e)由该周边记忆体读出资料并与该第二及第三测试样本交替比较;(f)若比较之结果不同则视为错误,并进入步骤(k);(g)若比较之结果相则将该第三及第二测试样本依序交替写入该周边记忆体;(h)由该周边记忆体读出资料并与该第三及第二测试样本交替比较;(i)若比较之结果不同则视为错误,并进入步骤(k);(j)若比较之结果相同,则结束自我测试并报告测试结果;及(k)停止自我测试,并报告测试结果、错误之测试样本及该测试样本位于该周边记忆体之位址。7.如申请专利范围第6项之方法,其中步骤(a)之第一测试样本系储存该周边记忆体之位址、该位址之互补信号及该位址之互斥或信号。图式简单说明:第一图系习知之影像处理系统图;第二图系本发明之一实施例之系统图;第三图系本发明之周边记忆体之储存方式之一实施例;第四图系本发明之测试样本之一实施例;及第五图系本发明之测试流程图。
地址 新竹巿科学工业园区工业东三路二号