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发明名称
MEASURING CIRCUIT FOR LEAK CURRENT OF SEMICONDUCTOR
摘要
申请公布号
JPH0541436(A)
申请公布日期
1993.02.19
申请号
JP19910194654
申请日期
1991.08.05
申请人
NEC IC MICROCOMPUT SYST LTD
发明人
TAKAHATA MAKIKO
分类号
G01R31/26;H01L21/66
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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