| 发明名称 |
APPARATUS FOR TESTING AN INTEGRATED CIRCUIT HAVING A DOUBLE-DEPTH CONNECTOR |
| 摘要 |
본 발명은 전자 디바이스의 집적 회로를 테스팅하는 장치와 관련된다. |
| 申请公布号 |
KR101710336(B1) |
申请公布日期 |
2017.02.27 |
| 申请号 |
KR20117029218 |
申请日期 |
2010.05.05 |
| 申请人 |
에어 테스트 시스템즈 |
发明人 |
핸드릭슨 데이비드 에스;조바노비치 조반;리치몬드 2세 도날드 피;바라클라우 윌리엄 디 |
| 分类号 |
G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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