发明名称 |
半导体装置及其形成方法 |
摘要 |
露系关于一种半导体装置与半导体装置之形成方法。半导体装置包括一半导体基底,以及复数隔离区域延伸进入半导体基底。一半导体鳍部位于隔离区域的相对部分之间,其中半导体鳍部系位于隔离区域的上表面上。一闸极堆叠与半导体鳍部重叠。一源极/汲极区域,位于闸极堆叠的一侧边上并连接至半导体鳍部。源极/汲极区域包括一内部,薄于半导体鳍部,以及一外部,位于内部之外侧。半导体鳍部以及源极/汲极区域的内部具有相同的四族半导体成份。
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申请公布号 |
TW201616649 |
申请公布日期 |
2016.05.01 |
申请号 |
TW104126209 |
申请日期 |
2015.08.12 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
江国诚;冯 家馨;吴 志强 |
分类号 |
H01L29/66(2006.01);H01L29/772(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/66(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
洪澄文;颜锦顺 |
主权项 |
一种半导体装置,包括:一半导体基底;复数隔离区域,延伸进入该半导体基底;一半导体鳍部,位于该等隔离区域的相对部分之间,其中该半导体鳍部系位于该等隔离区域的上表面上;一闸极堆叠,与该半导体鳍部重叠;以及一源极/汲极区域,位于该闸极堆叠的一侧并连接至该半导体鳍部,其中该源极/汲极区域包括:一内部,薄于该半导体鳍部,其中该半导体鳍部以及该源极/汲极区域的该内部具有相同的四族半导体成份;以及一外部,位于该内部之外侧。
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地址 |
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 |