| 摘要 |
Die Erfindung betrifft eine Anordnung und ein Verfahren zum Testen einer Einrichtung zum Schutz eines elektronischen Bauelements (6) gegen Überhitzung, wobei die Einrichtung (1) einen mit dem elektronischen Bauelement (6) in thermischer Verbindung stehenden Temperatursensor (2) und eine erste Steuerschaltung (4) für das elektronische Bauelement (6) umfasst, wobei der Temperatursensor (2) elektrisch mit der ersten Steuerschaltung (4) verbunden ist, wobei die Anordnung ein mit dem Temperatursensor (2) thermisch verbundenes Heizelement (3) aufweist, welches mittels einer zweiten Steuerschaltung (7) ansteuerbar ist. |
