发明名称 基于随机离散时域的继电保护同步性能测试系统及方法
摘要 本发明公开了一种基于随机离散时域的继电保护同步性能测试系统,包括上位机和测试主机,测试主机包括CPU、数据生成模块和若干随机数据发送模块;上位机、CPU、数据生成模块依次顺序连接,数据生成模块连接随机数据发送模块,随机发送模块与被测跨间隔保护设备相连接;数据生成模块包括第一晶振、FPGA和多通道数据发送单元,第一晶振、FPGA和多通道数据发送单元依次顺序相连接;随机数据发送模块包括数据发送单元、接收单元和第二晶振;本发明采用多晶振体系真正意义上实现合并单元输出时域上的随机性和离散性,多晶振体系包括数据生成模块的晶振和随机数据发送模块的晶振。
申请公布号 CN103983878A 申请公布日期 2014.08.13
申请号 CN201410245287.4 申请日期 2014.06.05
申请人 贵州电力试验研究院 发明人 徐长宝;高吉普;桂军国;王宇;汤汉松;罗强
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人 董建林
主权项 基于随机离散时域的继电保护同步性能测试系统, 其特征在于,包括上位机和测试主机,所述测试主机包括CPU、数据生成模块和若干随机数据发送模块;所述上位机、CPU、数据生成模块依次顺序连接,所述数据生成模块连接随机数据发送模块,所述随机发送模块与被测跨间隔保护设备相连接;所述上位机用于产生测试原始数据,生成发送数据模型,并配置时间特性;所述CPU用于按照上位机的配置信息完成数据重组后将数据发送给数据生成模块,接收完成上位机配置数据的信息导入和测试原始数据,依据上位机生成的发送数据模型和配置的时间特性,转换测试原始数据格式,生成符合协议标准的测试数据;所述数据生成模块包括第一晶振、FPGA和多通道数据发送单元,所述第一晶振、FPGA和多通道数据发送单元依次顺序相连接,数据生成模块基于第一晶振节拍将接收到的数据发送至各个独立随机数据发送模块,数据生成模块发出的数据为多间隔数据;所述随机数据发送模块用于随机发送测试数据,并实现重采样,所述随机数据发送模块包括数据发送单元、接收单元和第二晶振,接收单元与数据发送单元相连接,数据发送单元与第二晶振相连接,随机数据发送模块将接收到的数据基于随机数据发送模块的晶振发送到被测跨间隔保护设备,实现时域离散性。
地址 550005 贵州省贵阳市解放路251号