| 主权项 |
1.一种画像处理方法,系使用画像进行对象物之检查、认识、判断等;其特征为;具有:一子波(Wavelet)变换阶段,系将输入数位画像资料,在构成该画像之画面上,进行子波变换者;及一二进位化处理阶段,系对于上述被子波变换之画像资料中之高通资讯与低通资讯组合之部分,对各像素之像素値进行临界値处理,然后获得活性像素与非活性像素之二进位画像者;及一像素数计数阶段,系计算上述二进位画像资料中之活性像素之数。2.如申请专利范围第1项之画像处理方法,其中包含有孤立点除去阶段,系从上述二进位画像资料中,除去该画像之孤立之像素,以该孤立像素被除去之二进位画像资料,作为上述计数阶段之二进位画像资料者。3.如申请专利范围第1项之画像处理方法,其中上述子波变换阶段,系对输入数位画像资料进行子波变换之后之画像资料中之X轴方向低通资讯及Y轴方向低通资讯之组合部份,再至少作1次子波变换,将这样进行了复数次之子波变换之画像资料,给予上述二进位化处理阶段之阶段。4.如申请专利范围第2项之画像处理方法,其中上述子波变换阶段,系对输入数位画像资料进行子波变换之后之画像资料中之X轴方向低通资讯及Y轴方向低通资讯之组合部份,再至少作1次子波变换,将这样进行了复数次之子波变换之画像资料,给予上述二进位化处理阶段之阶段。5.如申请专利范围第1.2.3或4项之画像处理方法,其中包含良否判定阶段,系配合上述计算之活性像素数是否在规定値以下,来判断上述输入数位画像资料之资料源之检查对象物之良否。6.如申请专利范围第5项之画像处理方法,其中上述二进位化处理阶段之高通资讯与低通资讯之组合部份,系X轴方向高通资讯与Y轴方向低通资讯之组合部份,及Y轴方向高通资讯与X轴方向低通资讯之组合部份等2两者。7.一种画像处理方法,系使用画像,进行对象物之检查、认识、判断等;其特征为;具有:一子波变换阶段,系将输入数位画像资料,在构成其画像之画面上,进行子波变换者;及一能量之量算出阶段,系对于上述被子波变换之画像资料中之高通资讯与低通资讯之组合部份,计算画像能量之量。8.如申请专利范围第7项之画像处理方法,其中上述子波变换阶段,系对输入数位画像资料进行子波变换之后之画像资料中之X轴方向低通资讯及Y轴方向低通资讯之组合部份,再至少作1次子波变换,将这样进行了复数次之子波变换之画像资料,给予上述二能量之量计算阶段之阶段。9.如申请专利范围第7或8项之画像处理方法,其中包含良否判定阶段,系配合上述计算之画像能量之量是否在规定値以下,来判断上述输入数位画像资料之资料源之检查对象物之良否。10.如申请专利范围第9项之画像处理方法,其中上述能量之量计算阶段之高通资讯与低通资讯之组合部份,系X轴方向高通资讯与Y轴方向低通资讯之组合部份,及Y轴方向高通资讯与X轴方向低通资讯之组合部份等2两者。11.一种画像处理方法,系使用画像进行对象物之检查、认识、判断等;其特征为;具有:一子波变换阶段,系将输入数位画像资料,在构成该画像之画面上,进行子波变换;及一二进位化处理阶段,系对上述被子波变换之画像资料中之高通资讯与低通资讯之组合部份,对其各像素之像素値进行临界値处理,而得到活性像素与非活性像素之二进位画像资料;及一阶段,系检测上述二进位画像资料中之活性像素之连结状态者;及一良否判定阶段,系如果连结之像素数在规定数以上时,判断上述输入数位画像资料之资料源之检查对象物为不良。12.一种画像处理方法,系使用画像进行对象物之检查、认识、判断等;其特征为;具有:一子波变换阶段,系将输入数位画像资料,在构成该画像之画面上,进行子波变换;及一二进位化处理阶段,系对上述被子波变换之画像资料中之高通资讯与低通资讯之组合部份,对其各像素之像素値进行临界値处理,而得到活性像素与非活性像素之二进位画像资料;及一阶段,系对上述二进位画像资料中之活性像素进行标号处理者;及一良否判定阶段,系如果利用上述标号处理有规定面积以上之标号时,判断上述输入数位画像资料之资料源之检查对象物为不良。13.一种画像处理方法,系使用画像进行对象物之检查、认识、判断等;其特征为;具有:一子波变换阶段,系将输入数位画像资料,在构成该画像之画面上,进行子波变换;及一二进位化处理阶段,系对上述被子波变换之画像资料中之高通资讯与低通资讯之组合部份,对其各像素之像素値进行临界値处理,而得到活性像素与非活性像素之二进位画像资料;及一阶段,系将上述二进位画像资料作为二元画像予以显示;及一良否判定阶段,系看该显示画像,判断上述输入数位画像资料之资料源之检查对象物为不良。14.如申请专利范围第11.12或13项之画像处理方法,其中包含有孤立点除去阶段,系从上述二进位画像资料中,除去该画像之孤立之像素,将该孤立像素所除去之二进位画像资料交给下一阶段者。15.如申请专利范围第11.12或13项之画像处理方法,其中上述子波变换阶段,系对输入数位画像资料进行子波变换之后之画像资料中之X轴方向低通资讯及Y轴方向低通资讯之组合部份,再至少作1次子波变换,将这样进行了复数次之子波变换之画像资料,给予上述二进位化处理阶段之阶段。16.如申请专利范围第15项之画像处理方法,其中上述二进位化处理阶段之高通资讯与低通资讯之组合部份,系X轴方向高通资讯与Y轴方向低通资讯之组合部份,及Y轴方向高通资讯与X轴方向低通资讯之组合部份等2两者。图式简单说明:第一图系表示本发明之实施例之处理顺序之流程图。第二图A系表示定标(Scaling)函数之例。第二图B系表示Wavelet函数之例。第二图C-F系分别表示一元Wavelet变换处理之具体例中之变换前之数位S之各资料値、变换后之数列t之各资料値、变换前之数列S之资料之变化图、变换后之数列t之资料之变化图。第三图A系表示原画像之图。第三图B系对于第三图A之原画像之X方向进行Wavelet变换之画像。第三图C系对于第三图B之画像再进行Y方向之Wavelet变换之画像。第三图D系说明第三图B及第三图C之各像素之组合値之图。第四图A系表示具有面积缺陷之原画像资料之例之图。第四图B系表示在对第四图A之原画像进行了二元Wavelet变换后之画像资料之图。第四图C系表示对第四图B之画像再进行二元Wavelet变换之后之画像资料之图。 |
